X熒光光譜儀應(yīng)用越來越廣泛

X熒光光譜儀（XRF）根據(jù)各元素的特征X射線的強度，可以測定元素含量。作為一種快速、無損的分析技術(shù)，近年來，X熒光光譜儀在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得zui多也zui廣泛。
       XRF在地質(zhì)相關(guān)領(lǐng)域的應(yīng)用不斷在增長，“地質(zhì)學(xué)家、地質(zhì)工程師、實驗室技術(shù)人員、鉆井地質(zhì)學(xué)家、鉆井液錄入工和地球化學(xué)家都使用XRF，”陶氏化學(xué)的研究科學(xué)家Lora Brehm指出。例如，使用便攜XRF系統(tǒng)配合井下采礦和能源勘探，以及化學(xué)地層研究是進(jìn)行核心掃描。“由于電感耦合等離子體發(fā)射光譜 (ICP-OES)和原子吸收光譜(AAS)需要使用酸分解樣品，以至于不適于現(xiàn)場分析，但XRF*可以，特別是小型化的儀器。”
       芝加哥洛約拉大學(xué)副教授Martina Schmeling也表達(dá)了同樣的意見，“便攜性和現(xiàn)場易用性顯然是XRF的發(fā)展趨勢，”并稱XRF在天然氣勘探等領(lǐng)域也可以應(yīng)用，而且該方法具有非常出色的穩(wěn)定性和易用性。“與質(zhì)譜(MS)方法相比，XRF有很多優(yōu)勢，其中zui主要的一點是不需要載氣和其他消耗品，”她說到。“需要重點記住的一件事是，火星上有XRF，而沒有ICP-MS。”
       華盛頓州立大學(xué)的分析化學(xué)助理教授Ursula Fittschen，從更廣泛的角度看待XRF與其他技術(shù)的競爭。他指出，XRF的使用取決于分析物的含量水平和其他因素。“傳統(tǒng)XRF儀器吸引力的是在耐火材料分析等應(yīng)用中具有ppm級水平，”但是，她指出，對于ppb級的微量元素分析， ICP-OES是主力，只要樣品量不受限制、消解又很簡單。對于有限的樣本，微觀分析工具如全反射XRF或石墨爐原子吸收光譜可能是一個更好的選擇。“對于ppt水平的檢測，需要ICP-MS，”她補充道。
       幾個專家都提到了如鋼鐵行業(yè)的質(zhì)量控制過程中的應(yīng)用，“鋼鐵產(chǎn)品的精度非常高，波散XRF是必要的，”京都大學(xué)教授Jun Kawai說，“一臺有40塊晶體的XRF儀器能夠同時測量40個元素。”
       XRF在工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用不只是用于質(zhì)量控制，CTL集團(tuán)的科學(xué)家Don Broton指出。“物相鑒定和無標(biāo)分析的XRF增強了制造工廠迅速評估替代材料和配方的能力，以及不同制造過程的副產(chǎn)品，”他說。“更好地表征這些‘廢品’使其能夠得到更多的循環(huán)使用，會加快帶來一個綠色的未來。”
       維也納大學(xué)教授Christina Streli表示，“未來，XRF在文物、環(huán)境、醫(yī)學(xué)和其他領(lǐng)域的應(yīng)用價值，將會被越來越多的人看到。”
       洛薩拉摩斯國家實驗室的George Havrilla同意這一觀點，并稱，在文物研究領(lǐng)域XRF已經(jīng)證明了它的價值。“micro XRF對藝術(shù)品的快速成像分析將給藝術(shù)起源帶來新見解，”他說。“這些技術(shù)揭示了色素是在不斷降解的，使我們明白，我們今天看到的一些藝術(shù)品的顏色與當(dāng)初藝術(shù)家畫上去時是不一樣的。”
       Havrilla還指出，光學(xué)鑷子的進(jìn)展使得用XRF能夠檢測到單個細(xì)胞的“mechanical manipulation”，進(jìn)而使活體細(xì)胞內(nèi)容物的元素成像成為可能，這可以讓我們對生物機制有新的理解。
       日本筑波國家材料科學(xué)研究所教授、團(tuán)體Kenji Sakurai，也看到了XRF進(jìn)行化學(xué)狀態(tài)分析的進(jìn)展，包括X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)和X射線近邊吸收(XANES) 技術(shù)的XRF檢測在同步加速器中應(yīng)用取得的重要成就。“我相信，在科學(xué)和許多工程領(lǐng)域XRF化學(xué)狀態(tài)分析將帶來新的機遇。”